Seminario Tecnico La Microscopia Elettronica a Scansione
Microscopio elettronico a scansione (SEM) micrografia di una radice di pianta con una piccola radice sporgente capelli, ad un ingrandimento di 5000x, 2016 Foto stock - Alamy
MICROSCOPIA ELETTRONICA A SCANSIONE – SEM
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Microscopio elettronico a scansione - FlexSEM 1000 II - Hitachi High-Tech Europe GmbH - per analisi / per ispezione di materiale / per ispezione di inclusioni non metalliche
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1962 - delle sfere vetrose, ingrandita 6600 volte, è stata trovata tra Apollo II rocce lunari da scienziati presso il General Electric nel centro di ricerca e sviluppo di Schenectady, New York.
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